Oberflachenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs

Bok av Frank Schroder-Oeynhausen
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es moglich macht, Oberflachenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.