Oberfl chenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS

Bok av Frank Schroder-Oeynhausen
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es mglich macht, Oberflchenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.