Emissions Optiques Du Fer, Du Chrome Et de Leurs Oxydes : La luminescence

La technique SIPS (Sputter Induced Photon Spectroscopy) est utilise pour l'analyse des missions optiques issues de la dsexcitation des produits pulvriss des surfaces sous l'action des Kr+ de 5 keV. Les expriences sont menes sous vide (10-7 torr) et sous une atmosphre d'oxygne (5.10-6 et 10-5 torr) sur le fer massif et poudre et le chrome poudre et puis sous vide sur leurs oxydes : l'hmatite Fe2O3, la magntite Fe3O4 et l'eskolaite Cr2O3. Les spectres observs prsentent des sries de raies fines, toutes identifies des transitions entre les niveaux des atomes neutres de Fe respectivement de Cr. Les raies montrent une augmentation d'intensit dans le cas des mtaux oxygn. Cette intensification suggre la formation d'une couche d'oxyde sur la surface du mtal caractrise par une nouvelle structure de bandes. Le modle d'change d'lectron entre l'atome pulvrise dans un tat excit et les niveaux lectroniques du mtal permet de bien expliquer le comportement des raies observes et de suggrer des valeurs d'nergie pour le gap et l'affinit lectronique des couches d'oxyde formes sur le fer et sur le chrome ainsi que pour leurs oxydes respectifs.