Yarkostnyy I Chastotnyy Analiz Izobrazheniy Defektov Struktury

V monografii rassmatrivaetsya tsifrovaya obrabotka topograficheskikh i polyarizatsionno-opticheskikh izobrazheniy defektov struktury monokristallov, osnovannaya na analize ikh yarkostnykh i chastotnykh kharakteristik. Privodyatsya metodiki, algoritmy i programmy tsifrovoy obrabotki, primery primeneniya i sravnenie ikh effektivnosti pri ustranenii osnovnykh zashumlyayushchikh faktorov, zatrudnyayushchikh rasshifrovku eksperimental'nogo kontrasta i nadyezhnuyu identifikatsiyu defektov struktury. Pokazany preimushchestva diskretnogo veyvlet-analiza pri ustranenii slabogo kontrasta, fonovoy neodnorodnosti i zernistosti izobrazheniy, a takzhe ispol'zovaniya pri tsifrovoy obrabotke izobrazheniy s rasshirennym dinamicheskim diapazonom (HDR-izobrazheniy). Tsifrovaya obrabotka pozvolyaet vyyavit' tonkie osobennosti kontrasta i poluchit' novuyu kachestvennuyu i kolichestvennuyu informatsiyu o defektakh struktury, povysit' informativnost' diagnosticheskikh metodov. Prednaznachaetsya dlya nauchnykh rabotnikov, inzhenerov, prepodavateley i studentov, spetsializiruyushchikhsya v oblasti fizicheskogo materialovedeniya, kristallofiziki, tekhnologii materialov elektronnoy tekhniki, tsifrovoy obrabotki signalov i izobrazheniy.