Etude Par Spectrometrie M�ssbauer d''emission Du Sulfure de Cadmium

Le dveloppement trs remarqu des technologies bases sur l'lectronique, l'optique et l'optolectronique a t rendu possible grce aux avances ralises dans les domaines de conception des semi-conducteurs et de comprhension de leurs proprits lectroniques, optiques et structurales. L'tude de ces composs se trouve confronte des problmes lis la prsence et la diffusion des imperfections. L'tude des semi-conducteurs en couches minces constitue depuis longtemps un axe majeur de la recherche scientifique. Les mthodes VPE et CVD sont trs utilises pour la croissance cristalline et la spectromtrie Mssbauer occupe une place particulire dans l'tude et la dtection des dfauts. Ce livre donne un rsum sur la nature des inperfections et leurs mcanismes de diffusion dans les semi-conducteurs. Il prsente galement une explication dtaille du principe de l'effet Mssbauer et de la technique de spectromtrie Mssbauer. Une autre grande partie de ce livre est consacre la prsentation d'une tude dtaille sur la conception par la mthode VPE-CVD des couches minces du sulfure de cadmium (CdS) et leurs analyses par spectromtrie Mssbauer.