Conception Et Etude de la Fiabilit� Des Amplificateurs de Puissance

Avec l'mergence d'applications millimtriques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilit est devenue un enjeu extrmement important pour l'industrie. Dans un metteur/rcepteur radio, les problmes de fiabilit concernent principalement les transistors MOS intgrs dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement lev des puissances. Ce livre concerne la conception et l'tude de la fiabilit des amplificateurs de puissance fonctionnant aux frquences millimtriques en technologies CMOS avances. Le mmoire est articul autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l'tude, la conception, la modlisation et la caractrisation des lments actifs et passifs intgrs sur silicium et utiliss pour raliser des amplificateurs de puissance aux frquences millimtriques. Le 3me chapitre dcrit les trois amplificateurs de puissance conus et raliss pour les tests de fiabilit. Enfin, le dernier chapitre propose une tude complte de la fiabilit de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie