Anlise da implementao do processo inspeo tica : em substituição ao processo de teste 'in-circuit': na intelbras, São José/sc

Bok av Leandro da Silva
O trabalho apresentado teve como objetivo analisar e apresentar o estudo de caso da alterao da tecnologia de testes de placas eletrnicas do teste in-circuit para inspeo tica, tendo como foco a melhoria no ndice de qualidade dos produtos na empresa Intelbras S/A. A fim de tornar possvel esse trabalho, foram descritos os mtodos de inspeo visual, in-circuit tester (ICT), e Automated Optical Inspection (AOI). Foi realizada a apresentao dos setores de Insero Automtica (SMT) e Montagem de Telefones Sem Fio, dentro da empresa Intelbras S/A. Por fim, foi descrito o estudo que levou a empresa a alterar seu mtodo de testes do teste in-circuit para inspeo tica. O trabalho apresentado se provou eficaz, comprovando que as mquinas de inspeo tica apresentaram uma garantia de qualidade superior aos testes in-circuit, detectando defeitos que no seriam detectados com o mtodo anterior.